手機特殊條件測試可靠性測試
手機特殊條件測試
1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
2 測試環境：-20°C；4台手機；開機狀態。
2 試驗方法：將手機進行電性能參數測試後處於(yu) 開機狀態放置在-20° C的低溫試驗箱內(nei) 1小時後取出，進行1.2米的６個(ge) 麵跌落，２個(ge) 循環，要求3分鍾內(nei) 完成跌落，方法同常溫跌落。
2 檢驗標準：手機外觀，結構，功能和電性能參數符合要求。
2. 扭曲測試（Twist Test）
2 測試環境：室溫；4台；開機狀態；0.08倍手機厚度N·m力矩扭曲手機1000次。
2 檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
3. 軟壓測試（Squeeze Test）
2 測試環境：室溫（20~25°C）；4台；開機狀態；25Kg力反複擠壓手機10000次
2 檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
4. 撞擊測試（impact Test）
2 測試環境：室溫（20~25° C）；4台手機；0.2J的功率，打擊鏡片四角及中心各式各1 次。
檢驗標準：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點）， LCD功能正常。
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