射頻連接器的插拔壽命試驗方法

概述

試驗對象是一條長度為(wei) 1米，二端為(wei) Nm的RG223測試電纜組件（BXT P/N：RG223-03-03-1000A），被測的Nm接頭的螺套和外導體(ti) 采用銅鍍三元合金材料，內(nei) 導體(ti) 則采用鍍金黃銅。試驗是在以下條件下進行的：

1.試驗針對其中一端的Nm接口，與(yu) 一個(ge) Nf連接器進行對接，采用扳手進行連接和拆卸。為(wei) 了保證精度，采用了不鏽鋼材料的Nf接頭，一般情況下，不鏽鋼材料的連接器的壽命是1000次，這要比銅材高出整整一倍。

2.每插拔一次為(wei) 一個(ge) 循環，每100次插拔後測量一次電纜組件的插入損耗和被試驗端的接口的駐波，並記錄在2.2GHz頻率點上的數值。試驗共進行了2400次。

壽命試驗結果

最終測試結果見圖2和圖3，其中圖2（a）為(wei) 電纜組件在2.2GHz時插入損耗隨著插拔次數的變化，圖2（b）為(wei) 2.2GHz時駐波隨著插拔次數的變化。

圖中的紅色趨勢線說明，盡管實測值有些波動，電纜組件的插入損耗總是隨著接頭的磨損而變大；而駐波則無明顯的劣化現象，其典型值始終保持在1.07~1.09之間。

圖3是掃頻條件下的插入損耗和駐波變化，分別記錄了在插拔1000次，1600次和2000次情況下從(cong) 10MHz-3GHz的指標。掃頻結果顯示在整個(ge) 工作頻段內(nei) ，其插入損耗和駐波的變化特征與(yu) 點頻是一致的。

1.雖然上述試驗僅(jin) 僅(jin) 針對一隻射頻連接器，但是從(cong) 試驗結果依然可以得出一些參考結論：

2.正常使用前提下，射頻連接器的壽命將會(hui) 大大超過500次的標準值；在整個(ge) 頻段內(nei) ，沒有發現某個(ge) 頻點有插入損耗和駐波的跳變現象。

3.射頻連接器的插入損耗值隨著機械磨損而逐漸增加；而駐波則幾乎沒有變化；從(cong) 過程看，似乎沒有一個(ge) 明顯的失效點，所以在生產(chan) 線上，如果沒有發現電纜的明顯故障，應建立強製報廢製度，以保證測試指標