高溫烘烤試驗
高溫烘烤試驗又稱高溫老化試驗,從(cong) 屬於(yu) 老化測試。與(yu) 普通的高溫試驗不同的是,高溫烘烤的溫度較高,且沒有濕度條件。高溫烘烤試驗主要適用於(yu) 電子,電工,儀(yi) 表,材料,半導體(ti) 等生產(chan) 企業(ye) 對非易爆物進行幹燥,烘焙及熱處理,特別適用於(yu) LED,LCD在英晶體(ti) ,電容,電阻,等要求高恒精度和可靠性的產(chan) 品過程的烘幹和老化。此類高溫老化試驗一般采用高溫烘箱來完成。
高溫烘烤試驗應用領域:
道路交通類:道路車輛電子電氣設備、軌道交通機車車輛設備與(yu) 裝置、汽車零部件等
計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫療設備等精密儀(yi) 器等
電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等,PCB、PCBA。
電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設備、儀(yi) 器儀(yi) 表、醫療器械;
高溫烘烤試驗參考標準:GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。