材料分析
材料分析
切片+顯微觀察(光學顯微鏡OM、掃描電鏡SEM、透射電鏡TEM)
材料力學/電學/熱學/化學性能分析
表麵微區分析
異物/汙染分析
材料老化及可靠性分析
【表麵材料分析手段】:
AES 俄歇電子能譜儀(yi) 應用
AFM 原子力顯微鏡應用
EELS 電子能量損失分析儀(yi) 應用
FT-IR 傅立葉紅外顯微鏡應用
SEM/EDS 掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(yi) 應用
SIMS 二次離子能譜儀(yi) (特殊定點/非定點製樣、元素分析)
TEM 透射電鏡(定點/非定點製樣及上機觀察)
TOF-SIMS 飛行時間二次離子質譜應用
XPS X射線光電子能譜儀(yi) 應用